MICROELECTRONICS RELIABILITY属于中科院4区期刊，影响因子不高，国人投稿也比较少，但并不妨碍其在微电子领域具有一定的影响力。期刊未来的发展前景不错，还是值得投搞的，一起来看看这本期刊吧。

1. 期刊简介

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》期刊创刊于1962年。该期刊由Elsevier出版，并且每年出版12期，即每月一期。

MICROELECTRONICS RELIABILITY的国际标准连续出版物编号（Issn号）是0026-2714。

MICROELECTRONICS RELIABILITY目前的主编是Dr. Bongtae Han。

2. 影响因子

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》的影响因子近几年比较平稳， 2022年影响因子为1.6分

3. 分区

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》在中科院升级版中，大类工程技术位于4区，小类物理：应用、工程：电子与电气、纳米科技4区，非综述类期刊。

在JCR分区中，物理：应用、工程：电子与电气、纳米科技均为Q4。

 

4. 研究范围

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》研究微电子可靠性的范围涵盖了以下几个方面：可靠性测试和评估、 故障分析和故障定位、可靠性改进和优化、可靠性建模和预测、 可靠性管理和维护。

5. 稿件类型

MICROELECTRONICS RELIABILITY期刊接受的稿件类型包括以下几种：原创研究论文、 文献综述、评论和观点、 通信、专题论文集

6. 发文量

MICROELECTRONICS RELIABILITY的年发文量近三年稳定200篇以上。2020-2021年344篇，2021-2022年355篇，目前，2022-2023年期刊被sci收录的论文329篇。

国人发文情况

国人发文占比为5%。

7. 自引率

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》的自引率近几年缓慢降低，2022年自引率为12.5%。

8. 预警情况

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》不在预警名单中，可放心投稿

9. 审稿周期

《MICROELECTRONICS RELIABILITY》的审稿周期：2-4周（非官方）。

10. 版面费

MICROELECTRONICS RELIABILITY是一本接受开放获取期刊。需要版面费US$2260。

11. 网址信息

期刊官网：http://www.journals.elsevier.com/microelectronics-reliability/

投稿链接：https://www.editorialmanager.com/MICREL

12. 推荐指数

MICROELECTRONICS RELIABILITY审稿快，影响因子超过1分，自引率低，无预警风险，研究微电子的同学可以关注此期刊积极投稿