JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS是一本专注于电子测试理论与应用领域的科学期刊，它以快速的审稿周期和高质量的文章见称于行业。对于在电子测试领域进行研究和发文的专家学者，这无疑是一个值得关注的平台。关于更多详情，将在下文进行介绍。

   1、期刊简介：

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS（ISSN：0923-8174）是由施普林格自然出版社出版，主要关注电子测试理论与应用的研究领域。期刊的主编是电子工程领域的专家Prof. Vishwani Agrawal。期刊自1988年创刊以来，已经成为这个领域里的重要参考。

   2、影响因子：

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS的2020-2022年影响因子分别为0.88，0.795，0.9分，表明该期刊的影响力在稳步提升，对于有投稿需求的专业人士来说，是一个值得关注的学术平台。

   3、分区：

   根据最新的数据，JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS在中科院分区中属于 大类学科 工程技术：4区；小类学科 工程电子与电气：4区；在JCR分区中属于Q4分区。

   4、研究范围：

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS是唯一专门研究电子测试的期刊，是一个传播该领域最新研究成果和应用的国际论坛。凭借其快速的投稿出版周期，该杂志迅速将重要发现引起研究人员和从业人员的注意。该杂志涵盖的部分主题列表包括：VLSI器件、印刷电路板和电子系统的测试;故障建模与仿真;测试生成;可测试性设计;电子束测试系统;硬件的形式验证;模拟验证;设计调试;测试经济学;质量和可靠性;和 CAD 工具。

   5、稿件类型：

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊除了原创研究论文外，该杂志还发表具有特殊价值的会议论文。读者还将找到调查和评论，研究该领域的最新技术。

   6、发文量：

   2020-2022连续3年JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊的发文量分别为55篇，47篇，46篇。

   7、自引率：

   2020-2022连续3年JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS期刊的自引率分别为10.7%，18.2%，11.1%。

   8、预警情况：

   根据公开信息，JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS近年来未发生任何预警事件，表明其运营稳定，学术信誉良好。

   9、审稿周期：

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS的官方审稿周期信息公布显示：从提交论文至初次决定的时间约为30天。

   10、版面费： 

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS是开放获取期刊，其版面费用为：£2190.00/$3090.00/€2490.00。

   11、网址信息：
   期刊官网：Home | Journal of Electronic Testing (springer.com)
   投稿网址：https://www.editorialmanager.com/jett

   12、推荐指数

   JOURNAL OF ELECTRONIC TESTING-THEORY AND APPLICATIONS是一本在电子测试理论和应用领域具有重要影响力的期刊。它侧重于实用性和创新性，为研究人员提供了一个分享研究成果和理论洞见的高质量平台。近年来，期刊的发文量和自引率显示了其对新知识推动和原创研究的重视，对于专业研究者或新进学者，都是一个值得考虑的投稿选择。审稿周期较短，稿件类型多样，使得研究人员能够快速和广泛地展示其学术成果。